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- 產品描述
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三維自動光學檢測設備GR-AOI-510DL(雙軌)
◆ PSLM PMP 可編程相位輪廓調制測量技術
◆ 四/八向投射同步結構光技術
◆ 測量項目：缺件、偏移、旋轉、三維極性、反件、OCV、翹立、側立、立碑、焊接不良等
◆ 焊點檢查項目：焊錫拉尖、焊錫量百分比、多錫、少錫、橋接、堵孔、爬錫、焊盤污染等
◆ 最小檢測元件：01005（英）
◆ X-Y精度：10um
◆ 高度重復性精度：<1um(4sigma)
◆ 檢測面積：450x310mm(雙軌）
◆ 遠心鏡頭配合超高幀數高精度工業(yè)相機
◆ 檢測速度：0.45秒/FOV
◆ Mark點識別：0.5秒/個
◆ 最大檢測高度：10mm
◆ 可過板上器件高度：50mm
◆ 彎曲PCB最大測量高度：±5mm
◆ 操作系統(tǒng)：Windows 10 Professional (64 bit)
◆ 五分鐘編程，一鍵式操作
◆ SPC過程工藝控制
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